SQ3000在线或单机高精度扫描系统

SQ3000是一个一体化的解决方案提供强大的工具,可作检查和测量应用,如AOI、SPI和CMM。SQ3000™ X支持最大720 X 620 mm尺寸基板。

SQ3000™革命性的多重反射抑制(MRS)技术提供无与伦比的精度,通过精确识别和排除由发光部件引起的反射,保证测量精确性的最关键因素是有效地抑制多重反射所产生的影响,使MRS技术成为广泛应用的理想解决方案,包括对质量要求非常高的应用。

速度更快-检测速度以秒为单位,而不是小时

-以秒数完成几何计量检测•检测时间远超传统三坐标
-极大提高了企业的整体工程资源效率•降低人工成本

友好的操作界面

-简单直观的操作流程,配合触摸屏令使用更加便捷
-即使复杂工件•也可实现快速编程
-实现AOI, SPI, AOM, CMM多功能程序融合

计量级精度

-通过MRS (多反射消除)技术达到计量级检测精度
-针对几何计量,半导体,微电子和SMT行业•实现大批量编程测量并保持极高重复精度

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